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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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型號：zeta-APS

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美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時節(jié)省了時間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計； 3)寬粒徑測量范圍：從5nm到1000um； 4)自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態(tài)測定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測量時的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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APS100型固體表面Zeta電位分析儀

更新時間：2021-11-03

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固體表面Zeta電位分析儀，可測量縱向粘度，60%固體，PH值，電導(dǎo)率，溫度，聲衰減和聲速度譜；
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APS100型多孔材料表面Zeta電位分析儀

更新時間：2021-12-01

型號：APS100型

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多孔材料表面Zeta電位分析儀，APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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電聲法粒度儀Zeta電位分析儀

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納米粒度儀分析儀DLS 90

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型號：

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納米粒度儀分析儀DLS 90，采用集成的光子相關(guān)器?；贔PGA的光子相關(guān)器，集成雙通道光子計數(shù)器，確保光子無遺漏；1000個物理通道，提供充足的測量數(shù)據(jù)；小100ns采樣時間，確保z低1nm顆粒的測量；芯片內(nèi)模塊集成設(shè)計，保證高速、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)處理流程。
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美國MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀

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美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀

更新時間：2021-07-27

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