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高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述：ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。

產(chǎn)品型號：ZetaAPS
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-11-26
訪問量：2499

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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,制藥/生物制藥

　　ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

　　典型應(yīng)用：

　　綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。

　　主要特點(diǎn)：

　　1)能分析多種分散物的混合體；

　　2)無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn)；

　　3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

　　4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

　　5)可精確測量無水體系；

　　6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；

　　7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；

　　8)具有自動電位滴定功能；

　　優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：

　　1)被測樣品無需稀釋；

　　2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

　　3)不需定標(biāo)；

　　4)能分析多種分散物的混合體；

　　5)高精度；

　　6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

　　ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

　　優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

　　1)無需定標(biāo)；

　　2)能測更寬的粒徑范圍；

　　3)無需依賴Double Layer模式

　　4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

　　5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

　　6)可適用于無水體系；

　　7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

　　優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

　　1)無需稀釋，固合量高達(dá)60%；

　　2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

　　3)高精度(±0.1mv)；

　　4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

　　5)electrosmotic flow不影響測量；

　　6)對流(convection)不影響測量；

　　7)可精確測量無水體系；

　　技術(shù)參數(shù)：

　　1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

　　2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；

　　3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

　　4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

　　5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；

　　6)樣品體積：30-230ml；

　　7)PH范圍：0~14;

　　8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m

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